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              巴斯德儀器(蘇州)有限公司

              奧林巴斯光譜儀_手持光譜儀_合金分析儀_奧林巴斯手持分析儀-巴斯德儀器(蘇州)有限公司

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              Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀

              • 咨詢熱線:400-178-1913
              • 產品詳情

              融合鍍層市場需求,設計岀的一款性能高的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀。適用于鍍層厚度測量及材料分析,具有無損,可靠,高生產力,高靈活性等優點,可用來定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量,廣泛應用于電路板、半導體、電鍍、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等工業中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。

              客戶一般使用奧林巴斯Vanta™手持式X射線熒光(XRF)光譜儀*來確定合金,金屬和其他材料的化學成分,但您是否知道還可以使用手持式XRF光譜儀測量涂層鍍層的厚度?奧林巴斯Vanta手持式XRF光譜儀可以測量金屬,塑料,玻璃甚至木材上涂層鍍層的厚度。

              Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀技術規格

              1.1外型尺寸(寬 × 高 × 厚) 8.3 × 28.9 × 24.2 cm
              2.重量 手持式光譜儀帶電池時1.70公斤;不帶電池時1.48公斤。
              3.激勵源 4瓦特X射線管,其根據不同應用而優化的陽材料包括銠(Rh)、銀(Ag)和鎢(W)。 M系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀(Rh和W)和C系列(Ag):8 ~ 50 kV C系列手持式光譜儀(Rh和W):8 ~ 40 kV L系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀
              4.主光束過濾 每個模式每條光束有8個位置的自動選擇過濾器。
              5.探測器 M系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀:大區域硅漂移探測器 C系列手持式光譜儀:硅漂移探測器
              6.電源 可拆裝的14.4 V鋰離子電池或 18 V電源變壓器,100 ~ 240 VAC,50 ~ 60 Hz, 大70 W
              7.顯示 800 × 480 (WVGA)液晶電容式觸摸屏,可使用手指進行控制
              8.操作環境 溫度:–10 °C ~ 50 °C(帶可選風扇時,可連續工作)。 濕度:相對濕度為10 % ~ 90 %,無冷凝。
              9.墜落測試 通過了美軍標準810-G的1.3米高墜落測試。
              10.IP評級 IP65*:防塵,而且可防止來自各個方向的水噴。
              11.1壓力校正 內置氣壓計,用于海拔和空氣密度的自動校正。
              12.GPS 嵌入式GPS/GLONASS接收器
              13.操作系統 Linux
              14.數據存儲 4 GB嵌入存儲,帶有microSD卡插槽,可擴展存儲容量。
              15.USB 兩個USB 2.0 A型主端口,用于諸如Wi-Fi、藍牙和USB閃存驅動盤等配件。 一個USB 2.0袖珍B型端口,用于連接計算機。
              16.Wi-Fi Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀通過可選購USB適配器,支持802.11 b/g/n(2.4 GHz)。
              17.藍牙 Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀通過可選購USB適配器,支持藍牙和藍牙低能功能。
              18.瞄準攝像頭 全VGA CMOS攝像頭Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀
              19.全景攝像頭 5百萬像素CMOS攝像頭,帶自動聚焦透鏡。

               

              Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀–涂層鍍層材料的其他常見應用


              1.屏蔽電子設備:導電涂層鍍層用于幫助屏蔽塑料設備;

              2.建筑表面處理:涂層鍍層可保護鐵和鋼免受銹蝕,銅和黃銅不會失去光澤,鋅和鋁可以防污漬;

              3.太陽能電池:許多太陽能電池都有薄合金或聚合物涂層鍍層;

              4.工具鋼:鈦和碳化鎢有助于提高耐磨性和耐用性;

              5.電氣布線:鋅和鎳涂層鍍層正在取代傳統的鎘涂層鍍層;

              Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀如何測量涂層鍍層

              Vanta手持式XRF光譜儀可根據材料測量0.00至約60.00微米的涂層鍍層厚度。X射線從手持式XRF光譜儀發出,它們撞擊樣品,使其發出熒光。用于材料成份辨別(PMI)的Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀

              用于材料成份辨別(PMI)的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀,可為用戶提供為精細的材料化學成份信息,從而可快速精確地辨別金屬的牌號,以確保用戶在關鍵的位置上安裝牌號正確的合金部件。接收返回的的X射線并使用數據計算涂層鍍層或涂層鍍層的厚度。

               

              咨詢:Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀* 為必填項

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